SWIR（短波红外）成像是无损检测的绝佳解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方法来保证产品质量，包括检查包装中的液体质量，检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外，还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。
| 型号/model | C15333-10E |
| 有效像素数 | 1024 (H) × 1 (V) |
| 像素尺寸 | 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) |
| 有效面积 | 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V) |
| 满阱容量 |
Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons |
| 读出速度 |
Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz |
| 曝光时间 | 21 μs to 1 s (1 μs step) |
| 外部触发输入 | Sync readout |
| 外部触发信号路径 | 12 pin SMA or HIROSE connector |
| 图像处理功能 | Background subtraction, Real time shading correction |
| 接口 | Gigabit Ethernet |
| A/D转换器 | 14 bit |
| 镜头卡口 | C mount |
| 电源 | DC 12 V |
| 量子效率 | above 60 % (1100 nm ～ 1600 nm) * |
| 功耗 | 6 W max. |
| 推荐环境工作温度 | 0 ℃ to +40 ℃ |
| 环境储存温度 | -10 ℃ to +50 ℃ |
| 环境工作湿度 | 30 % to 80 % (with no condensation) |
| 环境储存湿度 | 90 % max. (with no condensation) |
| 成像器件 | InGaAs line sensor |
